A AEAN (Associação dos Engenheiros e Arquitetos da Alta Noroeste) realiza, nesta quarta-feira (15), às 19h, em Araçatuba, uma palestra presencial com o tema acervo técnico. O evento conta com apoio do Crea-SP (Conselho Regional de Engenharia e Agronomia de São Paulo) e é voltado a profissionais das áreas de engenharia, agronomia e geociências.
Para participar, é necessário se inscrever previamente pelo site para garantir o certificado. A entrada será a doação de 2 litros de leite.
A atividade será conduzida pela assistente administrativa Tathiana Lisboa e pelo chefe de equipe do CREA-SP, Ricardo Cury, que vão apresentar orientações práticas sobre ART (Anotação de Responsabilidade Técnica), atestados e Certidão de Acervo Técnico (CAT).
Segundo Cury, o tema é essencial para a atuação profissional. “O acervo técnico é o conjunto da experiência adquirida pelo profissional ao longo da vida laboral, desde que as atividades estejam registradas por meio da ART”, explica.
Ele ressalta que o registro correto é indispensável. “Somente atividades registradas podem compor o acervo técnico. Sem esse processo, a atividade não existe oficialmente para o conselho”, afirma.
Evento traz orientações práticas para evitar erros
Durante a palestra, os participantes também terão acesso a orientações sobre os principais erros cometidos na organização documental e como evitá-los.
De acordo com Tathiana Lisboa, falhas simples podem comprometer o processo. “O erro mais comum é a divergência entre os dados da ART e do atestado, como período de execução e quantitativos”, afirma.
Ela também destaca a importância das informações completas. “Os dados do signatário do atestado precisam estar completos, com nome, cargo e CPF, conforme exigido”, explica.
Outra orientação é a adoção de boas práticas para dar mais agilidade ao processo. “Fazer um check-list entre os documentos e optar pela assinatura digital do atestado ajuda a evitar retrabalho e garante mais rapidez na análise”, completa.
As inscrições podem ser feitas pelo site aean.org.br/eventos.
